| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移(30分钟) | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移(24小时) | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 | ||||
| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移(30分钟) | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移(24小时) | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 | ||||
| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移(30分钟) | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移(24小时) | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 | ||||
| 测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本误差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移(30分钟) | ≤±0.2μg/L | ||||
| 长期漂移(24小时) | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化学方法 | 硅钼兰光度法GB 12150—89 | ||||